Nearfield Instruments dan A*STAR IME Singapura Menandatangani Perjanjian Kolaborasi Penelitian untuk Memajukan Solusi Metrologi Semikonduktor dalam Era AI dan Pengemasan Lanjutan
Nearfield Instruments, pemimpin dalam metrologi semikonduktor lanjutan, dan A*STAR Institute of Microelectronics (A*STAR IME) Singapura, hari ini menandatangani perjanjian kolaborasi penelitian multitahun untuk mendorong inovasi dalam teknologi metrologi semikonduktor. Dengan